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干涉仪是以激光波长为已知长度、利用迈克耳逊干涉系统测量位移的通用长度测量工具。有单频的和双频的两种。单频的是在20世纪60年代中期出现的，初用于检定基准线纹尺，后又用于在计量室中精密测长。双频激光干涉仪是1970年出现的，它适宜在车间中使用。激光干涉仪在极接近标准状态(温度为20℃、大气压力为101325帕、相对湿度59%、CO2含量0.03%)下的测量精确度很高，可达1×10。在通常情况下需要数天时间进行的测试，使用API激光干涉仪只需几个小时即可完成，实际应用结果表明，节省时间可达80%。该仪器体积小，重量轻，可以直接安装到机床导轨上。激光干涉仪通过与不同的光学组件结合，可以实现对直线度、垂直度、角度、平面度的测量。上海精密激光干涉仪
激光干涉仪是利用激光作为长度基准，对数控设备（加工中心、三座标测量机等）的位置精度（定位精度、重复定位精度等）、几何精度（俯仰扭摆角度、直线度、垂直度等）进行精密测量的精密测量仪器。为通过受激发射线的放射达到光的放大，即激光。大多数现代位移干涉仪都使用氦氛（He-Ne）激光管，这些激光管具有633纳米（nm）的波长输出。激光具有三个重要特性：激光波长非常稳定，可以满足精密测量的要求。激光波长非常短，可以用于高精度测量。激光具有干涉特性。上海机床校准激光干涉仪激光干涉仪要设置专库存放，环境要求干燥、通风、防震、防雾。
从激光器发出的一束单色﹑频率稳定的激光,在分光镜上被分为强度相等的两束,一束经分光镜反射进入干涉仪的一臂(称为Y臂),另一束透过分光镜进入与其垂直的另一臂(称为X臂),在经历了几乎相同的度越时间之后,两束光返回,并在分光镜上重新相遇,并在那里产生干涉。若两束光的度越时间相等(或时间差为光振动周期的整数倍)则两束光在光探测器上干涉减弱呈暗条纹,而返回激光器的那个合光束则是干涉加强呈亮条纹。精心调节干涉仪的臂长使两束光完全相干相减,则探测器探测不到光强,激光干涉仪引力波探测器的输出信号为零。这是探测器的初始工作状态。
激光干涉仪初步调整后，固定分光镜并在分光镜上安装光靶，通过“整体”调整精确瞄准光靶后，取下分光镜光靶，将Z轴升高，观察激光在反光镜光靶上偏离程度，同时透过“尾部”调整使激光对准反光镜光靶，若在此过程中因“尾部”的调整导致分光镜遮挡了部分激光，则将Z轴停止上升回到起始处，重新调整“整体”，再次对准反射镜光靶。紧接着再升Z轴，继续调整“尾部”，观察激光在反光镜光靶上偏离程度。重复整个过程，往往几次即可达到准直要求。激光干涉仪各个测量镜组也可以在别的测量工作中使用。
激光干涉仪辅助工具的选择：虽然激光干涉仪安装组件比较齐全，但在实际使用过程中还是需要另外配置一些辅助工具：①研制低高度云台支架；部分机床工作台高度与地面是基本相平的，那么测量Z轴时，如果使用激光干涉仪原装三角架及云台安放激光器于地面，则肯定会因为三角架本身的高度，损失测量范围。②选择磁性表座；磁性表座是激光干涉仪常用的辅助工具，选择时需要注意，表座工作面上需有螺孔以配合安装镜组安装杆，主磁性吸面位于底面和侧面的表座各选择两个(实验室或工厂多采用的是主磁性吸面位于底面的表座)，在测量时，往往侧面吸的表座更利于激光干涉仪镜组的安装。激光干涉仪原理：激光器发射单一频率光束射入线性干涉镜，然后分成两道光束。上海数控机床公差激光干涉仪
激光干涉仪可按预定的间距自动完成检测和刻划定位。上海精密激光干涉仪
激光干涉仪引力波探测器要求激光束的横向剖面具有纯净的TEM00模式,即应该是基模厄米-高斯模式。因为高阶模式与干涉仪的不对称性相耦合,会使输出信号的对比度变差,而且高阶模式会使法布里-珀罗腔镜子表面光强分布改变,产生附加的热噪声。高阶模式的振幅是不稳定的,它会使镜子不同部位受到的辐射压力发生变化,产生附加的辐射压力噪声,严重时会使镜子抖动引起干涉仪锁定状态的不稳定。通过清模器可以清理高阶横向模式,清模器的主体部分是一个具有较高透射率的行波谐振腔,常采用由三面光学镜组成的锐三角形结构,其优点是清模效果好,光束抖动噪声小,能选择偏振形式,具有高的频率稳定性,没有光从清模器返回激光器。合理设计三面镜子的反射和透射系数并适当调节锐角上的镜子,使载频激光和两个旁频都能共振通过。上海精密激光干涉仪
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